TY -的盟Loupis AU - Avaritsiotis, j . n . AU - Tziallas g . d . PY - 1994 DA - 1900/01/01 TI - Electromigration-Induced故障统计分布的比较研究铝/铜薄膜互联SP - 060298六世- 16 AB - SN - 0882 - 7516你1994/60298 / 10.1155——https://doi.org/10.1155/1994/60298——摩根富林明,主动和被动电子元器件PB - Hindawi出版公司KW - ER