TY - JOUR A2 - Hernandez, J. Alfredo AU - Zhou, Jingyu AU - Tian, Shulin AU - Yang, Chenglin AU - Ren，Xuelong PY - 2014 DA - 2014/12/29 TI -测试生成算法模拟电路故障检测的基于极限学习机六世- 2014 AB - SP - 740838提出了一种新颖的基于极限学习机的测试生成算法(ELM),这种算法具有成本效益和低风险模拟测试设备(DUT)。该方法利用测试生成算法导出的测试模式来激发被测设备，然后对被测设备的输出响应进行采样，进行故障分类和检测。本文提出的基于elm的测试生成算法主要包含三个方面的创新。首先，该算法利用ELM对响应空间进行分类，有效地节省了时间。其次，该算法能有效避免由于脉冲响应样本数减少而导致测试精度降低的情况。第三，提出了一种测试信号发生器的新方法和测试生成算法中的测试结构，这两种方法都非常简单。最后，通过实验验证了上述改进和功能。SN - 1687-5265 UR - https://doi.org/10.1155/2014/740838 DO - 10.1155/2014/740838